晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术, 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术,可同时探测收集激光的反射光,透射光以及共聚焦,可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面,背面和内部的缺陷,可探测最小缺陷为10
日本理研EC-777DG型固定式毒性气体检测仪
日本理研EC-777DG型固定式毒性气体检测仪EC-777DG型固定式毒性气体检测仪详细介绍:特点:LED显示屏和视觉报警传感器内置的记忆功能内置微处理器带有自我诊断功能台式,两级报警,故障报警功能带干接点 规格检测气体和范围 (看表格) 检测原理 电化学原理 采样方式
全自动进样器
l样瓶数量:14*14=196个;l样瓶容积:12毫升;l电源输入:AC220V;l控制器显示:蓝色TFT液晶屏;l产品尺寸:490mm*482mm*330mm;
台式离子计
标准缓冲溶液自动识别,将校正误差减到小 使用错误标准或仪器本身出现问题信息提示 ION600具有50组数据储存/调用功能 ION600记录仪输出,读数能够打印
磁化率仪/磁化率天平
用于测量物质的磁化率(固体、液体和气体皆可)。只需少量样品(50mg-250mg),即可快速测量出顺磁和抗磁物质的磁化率。机器轻便(主机2.2kg),方便携带。