HP-300单角度光泽度仪
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椭圆率计
日本分光制的椭圆计配有日本分光专利产的PEM双重锁定方式和光伺服・光参考方式,实现高速性和高安定性。由于偏光素子的轴配置适合特别薄的膜和微小的偏光测量,所以主要用于向高集积化和高精细化发展的半导体及高机能光学薄膜等材料的评价。
美国SVC HR-1024便携式地物光谱仪
根据20年在遥测领域方面的经验,Spectra Vista公司再次在便携式分光辐射度计的领域上提高了其技术水平。其新式的SVC HR-1024全光谱地物波谱仪能够在整个VIS-NIR-SWIR领域内获取高的光谱分辨率。
单道扫描ICP光谱仪
电话:13521683201,李新路,由我公司研发,生产的原子发射光谱仪,能进行多种元素分析,且分析速度极快,应用面广,可分析70多种元素,包括周期表中所有的金属元素和部分非金属元素。该型仪器稳定性好、测量范围宽、检出下限低、分辨率高、灵敏度高。
地物光谱仪FieldSpec 3
FieldSpec 3便携式地物波谱仪是美国ASD公司(Analytical Spectral Devices)的新产品,适用于从遥感测量,农作物监测,森林研究到工业照明测量,海洋学研究和矿物勘察的各方面应用。操作简单,软件包功能强劲。
膜厚测定装置
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角,一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件,半导体,薄膜,光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定,受光角通过滑动积分球控制。另外,能用非同步方式分别设定入射角和受光角